卢森堡大学的物理学家及其研究伙伴首次在全面研究中证明了如何使用中子散射技术检查不同的磁浮子液位计。科学家已在《美国物理学会》备受尊敬的科学杂志《现代物理学评论》上发表了他们的见解。

    从计算机到扬声器到电动汽车和风力涡轮机，大多数电子设备都包含磁浮子液位计。了解为什么磁浮子液位计具有某些特性对于完善这些技术至关重要。介观长度尺度是纳米和微米之间的范围，它决定了许多材料的特性。材料的微观结构中的元素，例如晶粒之间的晶界，对金属的热，电，磁和机械性能都有重要影响。”美国大学物理与材料副教授Andreas Michels解释说。卢森堡，该论文的主要作者之一。

    在此水平下检查过程最重要的方法可能是中子散射。“使用中子散射技术，您可以深入了解这些材料，就像在其他材料上使用X射线一样，” Michels解释说。为了获得这一结果，科学家首先用中子束轰击了一种材料的样品。与样品的磁性相互作用导致中子偏离其正常航向。该散射是通过检测器确定的。然后，使用理论模型，科学家们可以根据散射中子的模式得出有关材料微观结构的结论。

    与慕尼黑工业大学，圣母大学，明尼苏达大学，上海自动化仪表五厂研究所和汉威

    上海自动化仪表五厂研究所的研究人员合作撰写的这篇综述论文着重于分析技术。“我们首次进行了全面的研究,以确定可以使用中子散射技术研究的材料种类广泛,” Andreas Michels说。“除其他外,我们对超导体,永磁体,形状记忆合金,铁磁流体感兴趣-从特定用途到固态物理学的基础研究,几乎涵盖了磁浮子液位计的所有领域。”

    工作的结果可以被物理学家和材料研究人员用来概述中子散射技术的应用范围，也可以被工程师用来预测承重能力，磨损和材料的质量。变化的条件。